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发布时间:
2024/04/03
在所有的电子元器件(Device)的制造工艺里面，存在着去伪存真的需要，这种需要实际上是一个试验的过程。为了实现这种过程，就需要各种试验设备，这类设备就是所谓的ATE(Automatic Test Equipment)。 这里所说的电子元器件DUT(Device Under Test)，当然包括IC类别，此外，还包括分立的元件，器件。ATE存在于前道工序(Front End)和后道工序(Back End)的各个环节，具体的取决于工艺(Process)设计的要求。
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